2019年 9月11日 （水） 午後
C棟 2F Ｃ201講義室
集積回路
半導体プロセスの極限的微細化に伴い，スケーリングによる性能向上の鈍化を補う高効率設計・検証技術の重要性が高まっている．本企画セッションでは，高性能かつ高信頼なLSIシステムの実現に向けたデバイス・回路・アーキテクチャ技術およびその設計技術における現状と課題，ならびに今後の展望について議論する．